HIOKI 3532-50高速LCR测试仪

HIOKI3532-50高速LCR测试仪

HIOKI3532-50高速LCR测试仪基本精度±0.08%，测量频率可调:DC、1mHz~100kHz(3522-50)/42Hz~5MHz(3532-50)3535
基本精度Z:±0.5%，θ:±0.3°宽频带100kHz~120MHz，*快5ms(3522-50/3532-50)的高速LCR测试仪

HIOKI 3532-50高速LCR测试仪宽频带、测量频率可调的3522/3532LCR测试仪，将测试速度提高到了5ms(是原有型号的4倍)。
3522-50高速LCR测试仪可提供DC和1mHz~100kHz的测试频率，
3532-50高速LCR测试仪的测试频带为42Hz~5MHz。能提供与元器件工作条件更为接近的测试条件。
3535高速LCR测试仪为100kHz~120MHz的宽频量程且价位低。具有6ms高速测定的内置比较器和负载补偿、BIN(分类)测量功能，应用范围广，例如芯片互感、高速磁头测试以及其他相关研发需求。可将前置放大器与3535拆离，使用指定电缆将其延伸，并尽可能接近被测物，以减小测量导线的影响。
简易的操作和低廉的价格，赋予这些元器件测试仪器出众的性价比。无论是用于实验室评估运行特性，还是用于生产线，都是您的理想选择。

HIOKI 3532-50高速LCR测试仪通过计算机进行外部控制

3522-50/3532-50通过安装选件9593-01、RS-232C接口、或者GP-IB接口，除了电源ON/OFF以外，本机的所有其它功能都可以由计算机来实现控制。

HIOKI 3532-50高速LCR测试仪使用表格计算软件的图表

通过使用市场上有售的标准表格计算软件，输入计算机的测量数据即可实现图表化。以下的例子为3532-50利用连续变化的频率来测量1MHz石英振子的频率特性，读入EXCEL中，然后显示的结果图表。用4位分辨率设置频率，如图表所显示，还可评估急剧变化的共振点特性。

HIOKI3532-50高速LCR测试仪与本机相同，*多可以选4项监测项目。选择项目的数据被列成文件。
可设置如扫频、数据直接输出等项目。此外，每按返回键，即可输出数据。

HIOKI3532-50高速LCR测试仪通过使用RS-232C接口，备有在计算机上设定频率扫描的同时，利用EXCEL将测试数据文件化的采样软件。

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